意大利MIam Politrack全自动固体径迹蚀刻测量系统由爱仪器仪表网代理,本产品是用于固体核径迹蚀刻探测器的全自动扫描测量系统。该系统可以读取 CR-39 和 LR115 探测器。现在热卖中!
Politrack全自动固体径迹蚀刻测量系统简介:
Politrack® 是用于固体核径迹蚀刻探测器的全自动扫描测量系统。
Politrack可以读取 CR-39 和 LR115 探测器。主要应用于各类研究,氡和中子的剂量测定。
Politrack提供了多种软件包,适用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和热中子以及LET光谱测量。
扫描面积可达 205x205 mm2,用户可定义探测器尺寸和读取面积。
通过 OCR 读取探测器ID。
在扫描开始时执行的自动对焦例程可确保在整个读取过程中使图像聚焦探测器表面。
形态分析会将对来自不同粒子或具有不同能量的径迹蚀刻进行分类,并去除本底噪声。
形态参数中具有滤镜功能,用户可以看到应用滤镜后会发生或出现什么状态,并且以此进行修改参数范围或度。软件可对与径迹密度成正比的径迹重叠进行校正。
输出数据文件包含所有探测器相关数据,用户可以自定义输出模板和格式(与Excel*兼容)。
Politrack全自动固体径迹蚀刻测量系统特点:
任何尺寸的CR-39和LR115检测器均可读数
精密的径迹蚀刻形态分析
CR-39检测器老化校正
LR115残余厚度校正
重叠校正
清晰明确的算法,不存在黑匣子
操作员可设置和修改所有参数
Politrack固体径迹蚀刻测量系统应用领域:
各类研究工作
剂量测定服务
氡测量
快中子
热中子
LET光谱
Politrack固体径迹蚀刻测量系统操作方法:
用户可以定义探测器的类型和尺寸,读取区域以及所有扫描参数。形态分析可以区分来自不同粒子和具有不同能量的径迹,去除本底干扰。
所有算法清晰明确,用户可以通过功能强大的图形工具轻松修改和/或应用形态分析滤镜,并实时可视化结果。若需更改参数,可直接使用二次计算工具,而无需重新读取探测器。输出文件包含所有探测器相关扫描数据,用户可自定义输出模板和格式。
Politrack固体径迹蚀刻测量系统技术参数:
蜂窝抗振面包板 | 550x750x40毫米 |
三轴微步电机控制板 | |
显微镜: | 4x +针孔(rad); 20x +冷凝器(中子) |
扫描架 | 200x200 mm |
Z轴精密线性平台 | 重复精度+/- 0.5微米 |
相机 | 1/3英寸CCD USB3 1280x960 b / n,30帧/秒 |
XY电动扫描台 | 205x205mm,90mm / sec,分辨率<1微米 |
LED系统 | 用于样品背光 |
软件包: | CR-39 ,、 LR115 ,、 CR-39中子/ LET光谱仪 |