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TASLimage固体径迹蚀刻测量系统

TASLimage固体径迹蚀刻测量系统

简要描述:

英国TASL TASLimage固体径迹蚀刻测量系统由爱仪器仪表网代理,本产品是基于核径迹分析技术发展的高性能全自动图像测量及分析系统,用于测量及分析各类塑料径迹探测器。现在热卖中!

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TASLimage固体径迹蚀刻测量系统简介:
TASLimage是基于核径迹分析技术发展的高性能全自动图像测量及分析系统,用于测量及分析各类塑料径迹探测器,例如 TASTRAK(TASL 公司生产)、CR39、PN3。
TASLimage系统的显微镜模块采用了高质量 Nikon 光学器件和超快 3D 机动控制系统,保证了系统的高测量效率、高精度及低本底等优异性能。
TASLimage适用于中子测量、氡浓度监测、聚变研究、α 粒子放射自显影、铀矿勘探、宇宙射线以及放射领域教学。
TASTRAK核径迹探测器
TASLimage固体径迹蚀刻测量系统特点:
全自动聚焦,全自动扫描点码和蚀刻径迹;
全自动测读批量探测器;
快速测读,测读时间为 30~60 秒(与参数设置相关);
自动修正探测器响应衰退,保证探测器可用于 12 个月的长期监测;
高度精密的图像分析技术,可区分径迹与本底特征;
全自动本底评估(对每个探测器);
扫描数据自动转换为中子剂量 / 氡浓度;
数据可导出 excel 文件。

TASLimage软件界面
TASLimage软件界面

TASTRAK核径迹探测器
TASTRAK核径迹探测器

TASLimage径迹蚀刻测量系统技术参数:

探测器类型PADC(聚丙烯二甘醇碳酸酯)
兼容品牌TASTRAK,CR39,PN3 等,不限尺寸
TASTRAK 规格常规:0.5mm,0.75mm,1.0mm,1.5mm,
可定制:0.1~0.5mm,> 1.5mm
本底径迹< 20tracks/cm2
蚀刻数量150 个或 294 个,不锈钢蚀刻架
蚀刻条件 (TASTRAK)氡:98℃ , 约 1 小时;或 75℃ , 约 6 小时;
中子: 85℃ , 约 3 小时
识别径迹密度≥ 140tracks/mm2
探测限氡:5Bq/m3 ~15MBq/m3
中子:下限< 0.25mSv
线性中子:优于 5%, 不窄于 0.1mSv - 600 mSv;
氡: 3%-6%(200-5000 Bq/m3 )


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