美国HVI美高测 TD-65E超低频耐压测试仪 本产品适用于额定电压 35kV 电缆的介损电桥诊断测试.现在热卖中，如需购买，可通过ai1718的客服热线联系我们!
美国HVI美高测 TD-65E超低频耐压测试仪简介：
TD-65E 介损电桥设计用于通过 XBee 协议与 VLF-34E 或 VLF-65E 进行无线通信并协同工作，以形成一个完整的电缆诊断系统。该系统具备*端功能，如无线通信、数据采集，并且可使用随附的 E-Link PC 软件生成报告。它旨在按照世界标准（IEEE 400、IEEE 400.2、IEEE 433、DIN VDE 0276、CENELEC HD620 S1、NEETRAC CDFI 等），对 5 至 35kV 的一次电缆进行介损（Tan Delta，也称为 Tan δ、损耗因数或损耗角）测试。介损测试是一种非破坏性诊断测试，用于测量屏蔽中压 / 高压电缆绝缘的劣化程度。测试结果能够揭示绝缘层的污染、损坏情况或水树分布状况。介损测试是在停电电缆上进行的离线测试，使用交流电源，在本案例中是使用非常低频（0.1Hz）的高压发生器为电缆提供测试电压，同时介损电桥记录测试结果。测试过程中会逐步升高测试电压，并监测读数，以避免在介损数值表明电缆严重劣化时可能出现的电缆故障。
技术参数：
型号
TD-65E
|
|
输入 | 需要两节碱性 “D" 型电池 —— 也可使用四节可充电 “D" 型电池（不含） |
测量范围 | 电压：1 - 65kVp（46kVrms），精度 ±1%，分辨率 0.1kV
电流：0 - 150mAp（106mArms），精度 ±1%，分辨率 1μA
介质损耗角正切：0.1Hz - 0.01Hz，5nF - 10μF，精度 1.0×10⁻⁴，分辨率 1.0×10⁻⁵ |
PC 接口 | XBee 802.15.4（无线，约 30 英尺传输距离） |
PC 软件 | E-Link 远程控制和报告生成软件 |
互连电缆 | 88-5061 - 用于 VLF-34E 的 20 英尺 / 6.1 米输出电缆
81-5220 - 用于 VLF-65E（序列号 1000 - 1285 ）的 20 英尺 / 6.1 米输出电缆
88-514 - 用于 VLF-65E（序列号 1286 及更高）的 20 英尺 / 6.1 米输出电缆 |
随附电缆 | 10 英尺 / 3 米带红色香蕉插头的 TD 输出引线、20 英尺 / 6.1 米黄绿测试引线、2 英寸 / 51 毫米 ×5 英寸 / 127 毫米环形线圈、带香蕉插座的 1.5 英寸 / 38 毫米铝球 |
尺寸 | TD 传感器（带三脚架）：7 英寸 / 152 毫米 ×8 英寸 / 203 毫米 ×18 英寸 / 457 毫米
TD 携带箱：22.5 英寸 / 572 毫米 ×15 英寸 / 381 毫米 ×11.75 英寸 / 298 毫米 |
重量 | TD 传感器（带三脚架）：7 磅 / 3.2 千克
TD（含携带箱和配件袋）：40 磅 / 18.14 千克 |
打印当前页
发邮件给我们：lucuicui@kanggaote.com
在线客服